मल्टीमोड अणु शक्ती मायक्रोस्कोपी


  • ऑपरेटिंग मोड:टच मोड, टॅप मोड
  • एक्सवाय स्कॅन श्रेणी:20*20म, पर्यायी 50*50um, 100*100um
  • झेड स्कॅन श्रेणी:2.5UM, पर्यायी 5um, 10um
  • स्कॅन रिझोल्यूशन:क्षैतिज 0.2nm, अनुलंब 0.05nm
  • तपशील

    1. लेसर शोध हेड आणि नमुना स्कॅनिंग स्टेज समाकलित केले आहे, रचना खूप स्थिर आहे आणि अँटी-इंटरफेंशन मजबूत आहे

    २. प्रीसीशन प्रोब पोझिशनिंग डिव्हाइस, लेसर स्पॉट संरेखन समायोजन खूप सोपे आहे

    S. सिंगल-अ‍ॅक्सिस ड्राइव्ह नमुना स्वयंचलितपणे अनुलंब तपासणीकडे जातो, जेणेकरून सुईची टीप नमुना स्कॅनवर लंबवत असेल

    Motor. मोटर-नियंत्रित प्रेशर पीझोइलेक्ट्रिक सिरेमिक स्वयंचलित शोधण्याची बुद्धिमान सुई फीडिंग पद्धत चौकशी आणि नमुन्याचे रक्षण करते

    5. ऑटोमॅटिक ऑप्टिकल पोझिशनिंग, लक्ष केंद्रित करण्याची आवश्यकता नाही, रीअल-टाइम निरीक्षण आणि प्रोब नमुना स्कॅनिंग क्षेत्राची स्थिती

    6. स्प्रिंग सस्पेंशन शॉकप्रूफ पद्धत, सोपी आणि व्यावहारिक, चांगला शॉकप्रूफ प्रभाव

    7. मेटल शिल्ड्ड साउंडप्रूफ बॉक्स, अंगभूत उच्च-परिशुद्धता तापमान आणि आर्द्रता सेन्सर, कार्यरत वातावरणाचे रिअल-टाइम मॉनिटरिंग

    8. इंटिग्रेटेड स्कॅनर नॉनलाइनर करेक्शन वापरकर्ता संपादक, नॅनोमीटर वैशिष्ट्य आणि मोजमाप अचूकता 98% पेक्षा चांगली

    ऑपरेटिंग मोड टच मोड, टॅप मोड
    पर्यायी मोड घर्षण/बाजूकडील शक्ती, मोठेपणा/टप्पा, चुंबकीय/इलेक्ट्रोस्टॅटिक शक्ती
    स्पेक्ट्रम वक्र शक्ती एफझेड फोर्स वक्र, आरएमएस-झेड वक्र
    एक्सवाय स्कॅन श्रेणी 20*20म, पर्यायी 50*50um, 100*100um
    झेड स्कॅन श्रेणी 2.5UM, पर्यायी 5um, 10um
    स्कॅन रिझोल्यूशन क्षैतिज 0.2nm, अनुलंब 0.05nm
    नमुना आकार Φ≤90 मिमी, h≤20 मिमी
    नमुना टप्पा प्रवास 15*15 मिमी
    ऑप्टिकल निरीक्षण 4x ऑप्टिकल ऑब्जेक्टिव्ह लेन्स/2.5UM रेझोल्यूशन
    स्कॅन वेग 0.6 हर्ट्ज -30 हर्ट्ज
    स्कॅन कोन 0-360 °
    ऑपरेटिंग वातावरण विंडोज एक्सपी/7/8/10 ऑपरेटिंग सिस्टम
    संप्रेषण इंटरफेस यूएसबी 2.0/3.0
    शॉक-शोषक डिझाइन वसंत supping तु निलंबित/मेटल शिल्ड बॉक्स

    应用 _ 副本


  • मागील:
  • पुढील:

  • आपला संदेश येथे लिहा आणि आम्हाला पाठवा