अणुशक्ती मायक्रोस्कोप शिकवणे


  • ऑपरेटिंग मोड:टच मोड, टॅप मोड
  • XY स्कॅन श्रेणी:20*20um, पर्यायी 50*50um, 100*100um
  • Z स्कॅन श्रेणी:2.5um, पर्यायी 5um, 10um
  • स्कॅन रिझोल्यूशन:क्षैतिज 0.2nm, अनुलंब 0.05nm
  • नमुन्याचा आकार:Φ≤90mm, H≤20mm
  • तपशील

    1. लहान आणि वेगळे करता येण्याजोगे डिझाइन, वाहून नेण्यास आणि शिकवण्यास अतिशय सोपे

    2. लेसर डिटेक्शन हेड आणि नमुना स्कॅनिंग स्टेज एकत्रित केले आहे, रचना अतिशय स्थिर आहे, आणि विरोधी हस्तक्षेप मजबूत आहे

    3. प्रिसिजन प्रोब पोझिशनिंग डिव्हाइस, लेसर स्पॉट अलाइनमेंट समायोजन खूप सोपे आहे

    4. एकल अक्ष नमुन्याला आपोआप उभ्या प्रोबकडे जाण्यासाठी चालवितो, जेणेकरून सुईचे टोक नमुन्याला लंब स्कॅन केले जाईल.

    5. मोटर-नियंत्रित प्रेशराइज्ड पायझोइलेक्ट्रिक सिरेमिक ऑटोमॅटिक डिटेक्शनची बुद्धिमान सुई फीडिंग पद्धत प्रोब आणि नमुन्याचे संरक्षण करते

    6. स्वयंचलित ऑप्टिकल पोझिशनिंग, फोकस करण्याची गरज नाही, रिअल-टाइम निरीक्षण आणि प्रोब नमुना स्कॅनिंग क्षेत्राची स्थिती

    7. स्प्रिंग सस्पेंशन शॉकप्रूफ पद्धत, सोपी आणि व्यावहारिक, चांगला शॉकप्रूफ प्रभाव

    8. इंटिग्रेटेड स्कॅनर नॉनलाइनर करेक्शन यूजर एडिटर, नॅनोमीटर कॅरेक्टरायझेशन आणि मापन अचूकता 98% पेक्षा चांगली

    तपशील:

    ऑपरेटिंग मोड टच मोड, टॅप मोड
    पर्यायी मोड घर्षण/पार्श्व बल, मोठेपणा/फेज, चुंबकीय/इलेक्ट्रोस्टॅटिक बल
    बल स्पेक्ट्रम वक्र FZ बल वक्र, RMS-Z वक्र
    XY स्कॅन श्रेणी 20*20um, पर्यायी 50*50um, 100*100um
    Z स्कॅन श्रेणी 2.5um, पर्यायी 5um, 10um
    स्कॅन रिझोल्यूशन क्षैतिज 0.2nm, अनुलंब 0.05nm
    नमुन्याचा आकार Φ≤90mm, H≤20mm
    स्टेज प्रवासाचा नमुना 15*15 मिमी
    ऑप्टिकल निरीक्षण 4X ऑप्टिकल ऑब्जेक्टिव्ह लेन्स/2.5um रिझोल्यूशन
    स्कॅन गती 0.6Hz-30Hz
    स्कॅन कोन 0-360°
    ऑपरेटिंग वातावरण Windows XP/7/8/10 ऑपरेटिंग सिस्टम
    संप्रेषण इंटरफेस USB2.0/3.0
    शॉक शोषून घेणारी रचना स्प्रिंग निलंबित

    微信截图_20220420173519_副本


  • मागील:
  • पुढे:

  • तुमचा संदेश इथे लिहा आणि आम्हाला पाठवा